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埃科光电:光源频闪计算成像技术提高缺陷检出率

九方智讯 05-08 11:16

5月6日有投资者向埃科光电(688610)提问:“光源频闪计算成像”技术是什么概念?与传统的恒定光源成像相比,在缺陷检测中有哪些独特优势?

5月8日公司回答表示:投资者您好!针对漫反射表面,光源频闪计算成像技术通过不同角度光源频闪,基于光度立体与相位偏折模型,进行硬件计算成像,获得表面法向量、高度、反射率等多张计算生成图像,有效提高缺陷检出率;针对镜面表面,光源频闪计算成像技术通过投影不同条纹,基于相位偏折模型,进行计算成像,获得表面光泽比图、形状图等多张图像,有效检测微弱表面瑕疵。感谢您的关注。

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